Advances in imaging and electron physics Vol. 153, Aberration-corrected electron microscopy
- Författare
- (Edited by Peter W. Hawkes.)
- Genre
- Bibliografi
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Academic Press | 2008 | Nederländerna, Amsterdam | xv, 538 sidor., [32] pl.-s. i färg ill. 24 cm. | 978-0-12-374220-9 |